無機半導(dǎo)體晶體通常傾向于以脆性方式失效,硫化鋅(ZnS)也是如此。ZnS晶體(A)在普通光照環(huán)境(B)下力學(xué)試驗后發(fā)生了嚴重斷裂。然而,我們發(fā)現(xiàn)ZnS晶體在完全黑暗的條件下即使是室溫(C)下也能沿[001]方向變形,發(fā)生εT=45%的形變應(yīng)變。變形后ZnS晶體的光學(xué)帶隙減小了0.6 eV。圖片來源:Atsutomo Nakamura
無機半導(dǎo)體(如硅)在現(xiàn)代電子學(xué)中是不可或缺的,因為它們介于金屬和絕緣體之間,具有可調(diào)的導(dǎo)電性。半導(dǎo)體的導(dǎo)電性是由它的帶隙控制的,該帶隙是其 價帶和導(dǎo)帶之間的能量差;窄帶隙會造成電導(dǎo)率的增加,因為電子更容易從價帶移動到導(dǎo)帶。然而,無機半導(dǎo)體具有脆性,這種脆性極有可能導(dǎo)致器件失效,限制了它們的應(yīng)用范圍,特別是在柔性電子器件中應(yīng)用。
最近名古屋大學(xué)的一個研究小組發(fā)現(xiàn),與在光照下相比,無機半導(dǎo)體在黑暗中出現(xiàn)了不同的性質(zhì)。他們發(fā)現(xiàn)硫化鋅晶體(ZnS)是一種典型的無機半導(dǎo)體,當暴露于光照下時是脆性的,但在室溫下保持黑暗時是柔性的。這項發(fā)現(xiàn)發(fā)表在《科學(xué)》雜志上。
“以前沒有研究過完全黑暗狀態(tài)對無機半導(dǎo)體力學(xué)性能的影響。”研究的合著者Atsutomo Nakamura說:“我們發(fā)現(xiàn)ZnS晶體在完全黑暗條件下顯示出比光照下更強的可塑性。”
黑暗中的ZnS晶體發(fā)生塑性變形,直到達到45%的大變形才產(chǎn)生斷裂。該小組認為,黑暗中硫化鋅晶體的可塑性增加可歸因于完全黑暗中的高位錯移動。位錯是一種晶體缺陷并能影響晶體性質(zhì)。在光照條件下,ZnS晶體由于其變形機制不同于暗相而顯示脆性。

材料的塑形變形是由于外力(A and B)作用下位錯的形核和長大產(chǎn)生的。一般認為脆性無機半導(dǎo)體材料由于其強的化學(xué)鍵而難以形成位錯。然而,我們發(fā)現(xiàn)在黑暗時的變形過程中,大量的位錯在ZnS晶體中產(chǎn)生和倍增,從而導(dǎo)致了其非凡的塑性。圖片來源:Atsutomo Nakamura
ZnS晶體在黑暗中的高塑性伴隨著變形晶體帶隙的顯著減小。因此,ZnS晶體的帶隙和它們的導(dǎo)電性可以通過在黑暗中的機械變形來控制。研究表明,變形晶體的帶隙減小是由于變形將位錯引入晶體中,改變了晶體的能帶結(jié)構(gòu)。
“這項研究揭示了無機半導(dǎo)體的機械性能對光的敏感性。”合著者Katsuyuki Matsunaga說:“我們的發(fā)現(xiàn)繼續(xù)研究下去,可能研發(fā)出通過控制光暴露來設(shè)計晶體的技術(shù)。”
研究人員的研究結(jié)果表明,無機半導(dǎo)體的強度、脆性和導(dǎo)電性可以通過光暴露來調(diào)節(jié),這為優(yōu)化電子器件中無機半導(dǎo)體的性能開辟了一條有趣的途徑。 |